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自動光學檢查

自動光學檢查（英語：Automated Optical Inspection，簡稱AOI），為高速高精度光學影像檢測系統，運用機器視覺做為檢測標準技術，作為改良傳統上以人力使用光學儀器進行檢測的缺點，應用層面包括從高科技產業之研發、製造品管，以至國防、民生、醫療、環保、電力…等領域。

CCD自動光學鏡頭處理檢測物件

自動光學檢查是工業製程中常見的代表性手法，利用光學儀器取得成品的表面狀態，再以電腦影像處理技術來檢出異物或圖案異常等瑕疵，因為是非接觸式檢查，所以可在中間工程檢查半成品。高精度光學影像檢測系統，包含量測鏡頭技術、光學照明技術、定位量測技術、電子電路測試技術、影像處理技術及自動化技術應用等領域，其開發應用不但符合高科技產業發展需求，其技術層面更可擴展至國防軍事工業，舉凡兵工武器製造、夜視作戰系統、戰略地形形貌之分析與研判等，都與此影像技術息息相關。


基本架構

 
LCD工業的自動光學檢測設備
自動光學檢測設備組成部位：
  • 光學部分：
    • CCD Camera（檢測鏡頭）──
    • 光源（上下光源打光）──
    • Review Camera（複檢確認鏡頭）──
  • 系統主機部分（由個人電腦與週邊組成）：
    • CIM系統主機──
    • 系統主機螢幕──
    • 瑕疵檢查主機──
    • 瑕疵檢查主機螢幕──

應用

AOI技術領域非常廣泛，廣義的AOI為結合光學感測系統、訊號處理系統及分析軟體，應用層面可包括宇宙探測、航空、衛星遙測、生物醫學、工業生產品質檢測、指紋比對、機器人控制、多媒體技術。

狹義的AOI則指目前大量應用工業自動化的LCD/TFT、電晶體與PCB工業製程上的光學檢測設備，以及在IC及一般電子業、機械工具/自動化機械、電機/電子工業、金屬鋼鐵業、食品加工/包裝業、紡織皮革工業、汽車工業、建築材料、保全/監視等的自動光學結合影像處理的系統。

發展趨勢

  • 技術規格
  1. 完整行程須在60 秒內（甚至更短）
  2. 錯誤判斷發生率的降低（避免操作人員的重複檢查）
  3. 盡可能的減少稼動損失（例如減少交換被檢查單元的時間）
  4. 提高模糊比對的功能
  5. 影像解析度不斷提高
  6. 可檢測出週邊線路（以往只需要檢測面板內部）
  7. 可儲存面板的瑕疵影像
  8. 自動分類瑕疵
  • 設備功能
  1. 可輸出分析表格與圖形
  2. 可檢出Mura（英語：Mura (Japanese term)）瑕疵功能
  3. 可處理修補瑕疵功能

參考連結

參照

參考文獻

  • 陳茂成，「從國際FPD 產業趨勢看國內發展商機與挑戰」，工研院IEK 產業情報網，2004 年12 月。
  • 黃仲龍，「提昇LCD 設備自製率議題評析」，工研院IEK 產業情報網，2004 年11 月。
  • 五十嵐大作，小田切章，久保哲夫， 「The Latext Optical Inspection Equipment that influences the Yield of Large-screen, Flat-screen TV Production」, 14th FPD manufacturing technology expo& conference, Tokyo Big Sight, Tower Bldg., Japan, July, 2004.
  • 張鈞傑，黃俊堯，鄭晃忠，「缺陷檢測技術在液晶顯示器製造之應用」，科儀新知，25 卷第二期，第23 頁至35 頁，2003 年10 月。
  • 林道榮，「薄膜電晶體液晶面板自動光學檢測設備發展概況」，台灣工銀金融電子週報，2004 年06 月。
  • Jung-Hun Kim, Suk Ahn, Jae Wook Jeon, Jong-Eun Byun, 「A highspeed high-resolution vision system for the inspection of TFT LCD」, IEEE International Symposium on Industrial Electronics, Proceedings. ISIE 2001, vol.1, pp101-105, 2001.
  • 黃仲龍，「LCD 設備產業發展概況與發展機會」，機械工業雜誌，256 期，2004 年7 月。
  • K. Nakashima, 「Hybrid Inspection System for Color Filter Planes」,Proceedings of IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, Hamamatsu, Japan, Vol. 2, pp. 689-692 ,1994.
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