原子序數襯度像技術

原子序數襯度像技術（Z-contrast），一種採用高角環形檢測器收集掃描透無線電子顯微鏡(STEM)的繞射模式下的高角度漫散射電子成像的技術。

使用原子序數襯度像(Z-contrast)技術的掃描透無線電子顯微鏡可以達到原子級別的解像度，是當今最新的可達到最高解像度的電子顯微鏡Z-contrast STEM採用的主要技術。

掃描電子顯微鏡的背散無線電子像也可獲得原子序數襯度像。

首次使用

這種技術由美國橡樹嶺國家實驗室的研究人員彭尼庫克(S. J. Pennycook )在1988年首次發明採用，此後一直是掃描透無線電子顯微術中達到高解像度的一種主要技術。

技術特點

與傳統的電子顯微鏡成像技術相比，它有以下一些優點：

1. 很大程度的簡化了原子列的位置的確定；
2. 它是一種非相干成像過程，在結構測定中避免了相差的問題,可以排除由於相差引起的像解析的複雜性；
3. 它的襯度依賴於原子序數，不隨着物鏡的欠焦量和樣品的厚度的變化而發生襯度反轉；
4. 比傳統的高分辨像(HREM)更容易解釋，尤其是能夠實現比傳統高分辨HREM更高的解像度，所獲得的圖像信息也更多。

應用

隨着這種技術的理論和實驗的不斷展開，原子序數襯度像技術可能在材料原子尺度的結構研究中發揮重要作用。

參考文獻

Structure Determination Through Z-Contrast Microscopy S. J. Pennycook

參考網站

橡樹嶺國家實驗室STEM實驗組 （頁面存檔備份，存於互聯網檔案館）（英文）