File:Silicon dislocation orientation 111 mag 500x 2.png
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Silicon_dislocation_orientation_111_mag_500x_2.png （768 × 576 像素，檔案大小：574 KB，MIME 類型：image/png）
摘要
| 描述 |
Title: Dislocation in Si crystal, orientation 111
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| 日期 | 2005年9月13日 (原始上傳日期) |
| 來源 | 无法识别来源。根据版权声明推断为其自己的作品。 |
| 作者 | 无法识别作者。根据版权声明推断作者为Twisp。 |
授權條款
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檔案歷史
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| 日期/時間 | 縮圖 | 尺寸 | 用戶 | 備註 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 目前 | 2005年9月13日 (二) 00:17 | | 768 × 576（574 KB） | Twisp | * Title: Dislocation in Si crystal, orientation 111 * Desc: Image of dislocation in Si crystal made using interference microscope with 500x magnification. Crystal orientation can be determined by the triangular (pyramidal) shape of the dislocation. * Auth |
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